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相變隨機存取記憶體(PCRAM:Phase Change RAM)

❒ 相(Phase)
「相(Phase)」是指「原子的排列方式」,每一種不同的原子排列方式,就稱為一種相(Phase),例如:固體稱為「固相」;液體稱為「液相」;氣體稱為「氣相」。其中固體材料最常見的原子排列方式有三種,分別是單晶相、多晶相、非晶相:
➤單晶(Single crystal):如果整塊固體材料都形成結晶,則稱為「單晶(Single crystal)」。如<圖一(a)>所示,可以將圖中的圓形想像成原子,我們將立體的原子排列簡化成平面的圓形來表示,由圖中可以看出整塊固體中的每一個原子都排列得很整齊。
➤多晶(Poly crystal):如果整塊固體材料的局部區域(大約數百奈米)形成結晶,則稱為「多晶(Poly crystal)」。如<圖一(b)>所示,由圖中可以看出整塊固體中只有局部區域的原子排列得很整齊,這些「局部區域」的大小約在數百奈米(nm)左右,而且不同的區域之間原子排列的方向不同,會形成「晶界(Grain boundary)」,但是整塊固體材料的原子排列看起來其實是有點混亂的。
➤非晶(Amorphous):如果整塊固體材料都沒有形成任何結晶,則稱為「非晶(Amorphous)」。如<圖一(c)>所示,由圖中可以看出整塊固體中的原子都排列得很混亂,沒有任何規則,因為也沒有「晶界(Grain boundary)」存在。知識力www.ansforce.com。
圖一 固體材料的結晶性質。
❒ 相變化(Phase transformation)
材料由一種相轉變成另外一種相稱為「相變化(Phase transformation)」,例如:材料由單晶相變成非晶相,非晶相變成單晶相等,要使固體材料進行相變化,最常使用的方法有兩種:
➤退火(Anneal):先使固體材料升高溫度,再「緩慢冷卻」可以形成「單晶(Single crystal)」,單晶材料原子排列整齊「電阻小(低阻態)」。當固體材料的溫度升高,則原子與原子之間的距離增加,原子振動變大開始左右微小地移動,原子的排列會變得混亂,如果此時我們進行「緩慢冷卻」,則原子的溫度會緩慢地下降,不同固體材料的原子本來就有各自的單晶排列方式
➤焠火(Quench):先使固體材料升高溫度,再「快速冷卻」可以形成「非晶(Amorphous)」,非晶材料原子排列混亂「電阻大(高阻態)」。當固體材料的溫度升高,則原子與原子之間的距離增加,原子振動變大開始左右微小地移動,原子的排列會變得混亂,如果此時我們進行「快速冷卻」,則原子瞬間因為降溫而被凍住,停留在混亂的狀態,因此可以得到「非晶相」。
固體材料的溫度要升到多高才足夠變成非晶相,則與固體材料的熔點有關,熔點愈高的固體材料原子愈不容易振動,所以需要愈高的溫度,一般而言,要使固體材料變成非晶相,大約要將溫度上升到熔點(Melting point)的一半以上才夠,例如:矽的熔點大約1400°C,則要使單晶矽變成非晶矽,至少要加熱到700°C以上。加熱的溫度並不是愈高愈好哦!溫度太高固體材料會變形,更不能加熱到熔點,否則固體就變成液體囉!知識力www.ansforce.com。
❒ 相變隨機存取記憶體(PCRAM)的構造
相變隨機存取記憶體(PCRAM)的構造如<圖一>所示,直接在矽晶圓上使用濺鍍法成長一層「高阻抗」金屬電極,高阻抗代表電阻大容易產生高溫來加熱相變化材料,再使用濺鍍法成長一層「相變材料」,最後再以化學氣相沉積法(CVD)成長一層「高阻抗」金屬電極,並且使用光罩、曝光、顯影、蝕刻將金屬層蝕刻成金屬導線,金屬導線必須分布在每一個位元(bit),用來存取每一個位元(bit)的資料。
➤高阻態(HRS:High Resistance State):單晶相變材料電阻值高。
➤低阻態(LRS:Low Resistance State):非晶相變材料電阻值低。
➤重置(Reset):上下金屬電極加熱相變材料再快速冷卻進行「焠火(Quench)」,使相變材料由單晶低阻態(LRS)轉變為非晶高阻態(HRS),如<圖二(a)>所示。
➤設定(Set):上下金屬電極加熱相變材料「退火(Anneal)」,使相變材料由非晶高阻態(HRS)轉變為單晶低阻態(LRS),如<圖二(b)>所示。
圖二 相變隨機存取記憶體(PCRAM)的構造示意圖。
❒ 相變隨機存取記憶體(PCRAM)的工作原理
PCRAM的工作原理與相變光碟(CD-RW)相似,都是利用相變材料,例如:鍺(Ge)、銻(Sb)、碲(Te)的硫化物,在「單晶相」與「非晶相」之間轉換來代表0與1,唯一的差別在於相變光碟是利用光學讀取頭(雷射二極體)發出的雷射光來加熱相變化材料進行退火與焠火,而PCRAM是利用高阻抗金屬電極產生熱量來加熱相變化材料進行退火與焠火,寫入資料的原理如<圖三>所示:
➤寫入資料0:電流由上層與下層的高阻抗金屬電極流入產生熱量加熱相變材料,再快速冷卻(焠火)形成「非晶相」,如<圖三(a)>所示。
➤寫入資料1:電流由上層與下層的高阻抗金屬電極流入產生熱量加熱相變材料,再緩慢冷卻(退火)形成「單晶相」,如<圖三(b)>所示。知識力www.ansforce.com。
PCRAM讀取資料是利用單晶相與非晶相的導電性不同,直接經由連接在每個位元上下方的金屬導線讀取資料,量測單晶相與非晶相的電壓,讀取資料的原理如<圖三>所示:
➤讀取資料1:當相變材料為「單晶相」時,導電性較佳(電阻較小),如<圖三(c)>所示。
➤讀取資料0:當相變材料為「非晶相」時,導電性較差(電阻較大),如<圖三(d)>所示。
圖三 相變隨機存取記憶體(PCRAM)的工作原理示意圖。
❒ 相變隨機存取記憶體(PCRAM)的優缺點
➤優點
1.屬於「非揮發性記憶體」,電源關閉後資料仍然可以保存。
2.不像快取記憶體(Flash ROM)需要高電壓強迫電子注入浮動閘極,所以耗電量較低。
3.不像硬碟機(HDD)需要使用旋轉馬達與讀取頭,所以很省電、耐撞擊、不跳針。
➤缺點
1.必須使用高電流加熱相變材料,高電流造成耗電量較大。
2.不同的材料熱膨脹係數不同,重覆讀寫可能造成薄膜剝離,原本也可能無法重覆排列成單晶。
3.必須使用各種熱相變材料(鍺、銻、碲的硫化物),製程不夠成熟,良率較低。
4.許多專利由國外公司掌握,如果支付專利費用,則生產成本較高,售價也較高。
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